International Workshop "Modern Nanotechnologies 2016"

 

Ural Center for Shared Use “Modern Nanotechnologies”
Ural Federal University

invites you to participate in
the international workshop
MODERN NANOTECHNOLOGIES 2016

August 27–29, 2016

Institute of Natural Sciences UrFU, Ekaterinburg, Kuibysheva str. 48

 


  • Делегация Даляньского технологического университета
  • 19 мая 2016 года Уральский центр коллективного пользования «Современные нанотехнологии» УрФУ посетила делегация Даляньского технологического университета во главе с директором Института материаловедения и инжиниринга профессором Лэй Минкай.

    Профессор Лэй Минкай с коллегами участвовал в конференции, организованной Институтом машиноведения УрО РАН и выразил желание посетить УЦКП СН.

    20 May 2016

  • Сотрудник УЦКП СН Денис Аликин удостоен международной премии Scopus Award
  • Йонгсук Чи, В.В. Кружаев, Д.О. Аликин. Фото: Илья Сафаров
  • Сотрудник УЦКП СН кандидат физико-математических наук Денис Аликин получил международную премию Scopus Award. Церемония вручения национальной премии за достижения в области науки и инноваций Scopus Award Russia — 2016, организованная компанией Elsevier и УрФУ, прошла 16 мая в Екатеринбурге. 

    Вклад автора в развитие национальной науки организаторы премии измеряют количеством опубликованных научных статей и их цитированием в журналах международного уровня, что является объективным показателем. Количество опубликованных статей индексируется с помощью базы данных Scopus. 

    17 May 2016

  • Визит советника по науке посольства Индии
  • 16 марта 2016 г. в Уральском центре коллективного пользования «Современные нанотехнологии» побывал советник по науке посольства Индии в России Абхишек Ваиш. Экскурсию провёл кандидат физико-математических наук, старший научный сотрудник УЦКП СН Дмитрий Пелегов.
    Абхишек Ваиш остался под большим впечатлением, он нацелен на совместные проекты и установление долгосрочного сотрудничества.

    19 March 2016

  • Иностранные студенты Весенней Школы ВШЭМ поражены возможностями современной науки
  • Board of European Students of Technology (BEST) совместно с департаментом Экономики и финансов ВШЭМ УрФУ обратились в Уральский центр коллективного пользования «Современные нанотехнологии» с просьбой провести экскурсии для иностранных студентов  Весенней Школы ВШЭМ УрФУ «Инновации и технологии в промышленности. Международный бизнес».

    15 марта 2016 года в 3 потока на английском языке прошли экскурсии по УЦКП СН для студентов из Германии, Испании, Португалии, Италии, Швеции, Нидерландов, Дании, Австрии, Бельгии, Греции, Венгрии, Сербии, Эстонии и Польши.

    18 March 2016

  • Vladimir Shur gave lectures in the largest educational center for gifted children
  • In February 2016 in Sochi Ural-Siberian scientific school for gifted students was held in the largest educational center called "Sirius" . The educational center was established at the initiative of the President, to encourage children to science and research. Participants underwent a rigorous selection change: winning competitions, contests, tournaments, preparing research papers.

    10 March 2016


Оборудование

  • Сканирующий зондовый микроскоп
  • NTEGRA Aura

    • Топография (рельеф) поверхности
    • Туннельная спектроскопия
    • Визуализация доменной структуры сегнетоэлектриков
    • Пространственное распределение упругих свойств материалов
    • Измерения в газовых средах при контролируемом давлении
  • Зондовый спектроскопический комплекс
  • NTEGRA Spectra

    • Топография (рельеф) поверхности
    • 3D визуализация оптической неоднородности материалов
    • 3D распределение неоднородностей фазового и структурного состояни
    • Определение спектрального состава оптического излучения для каждой точки 3D изображения
  • Учебный класс сканирующей зондовой микроскопии
  • Nanoeducator

    • Определение основных параметров универсального датчика туннельного тока и силового взаимодействия СЗМ
    • Визуализация твердотельных микро- и наноструктур с помощью СЗМ
    • Динамическая силовая литография
    • Обработка и количественный анализ СЗМ изображений
  • Сканирующий электронный микроскоп
  • Carl Zeiss AURIGA CrossBeam

    • Измерение рельефа поверхности с субнанометровым вертикальным разрешением и построение трехмерных изображений рельефа поверхности
    • Измерение шероховатости поверхности
    • Измерение толщины покрытий
ФИО*: Email*: Телефон*: Заявка на измерение*: Объект исследования*: Ваше сообщение: